阿摩線上測驗
複選題
17 以掃描式電子顯微鏡/X-射線能譜分析儀進行無機物分析，可獲得待測物證重要資訊，下列敘述何者正確？
(A)二次電子的發射強度隨樣品所含元素原子序之增加而增強
(B)背向散射電子經影像轉換後，即可觀察樣品的表面形態
(C)二次電子及背向散射電子信號可用來作為高倍率的顯微觀察
(D)不同元素產生之 X-射線能量均不同，一般用於樣品之破壞性元素定性及定量分析
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統計： A(25), B(26), C(38), D(10), E(0) #3461091
統計： A(25), B(26), C(38), D(10), E(0) #3461091
詳解 (共 2 筆)
a00543543
#7368401
Ｂ選項：
雖然背向散射電子可提供部分立體感，但其主要功能是利用原子序的差異來觀察「成分對比與元素分佈情形」。若要觀察樣品的「表面形態與立體結構」，實務上主要是利用「二次電子（SE）」，因為二次電子能量極低，僅能從表面極淺層逃逸，對表面高低起伏與邊緣效應極為敏感。
雖然背向散射電子可提供部分立體感，但其主要功能是利用原子序的差異來觀察「成分對比與元素分佈情形」。若要觀察樣品的「表面形態與立體結構」，實務上主要是利用「二次電子（SE）」，因為二次電子能量極低，僅能從表面極淺層逃逸，對表面高低起伏與邊緣效應極為敏感。
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